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由于电路板上的零件本体，引脚，trace，测试点点等等的存在，固化后的膜不会是一个平整的高度，单点的厚度监控或者测试并不能反映真实的实际情况。CC 涂覆 AOI 是业界内唯一提供完整的厚度检测方案的设备。
涂覆检测 AOI 特点
•最大测试尺寸：420 x 540 mm/300*400mm；(单段扫描）
•双面同时检测 / 或只选择单面；
•线性扫描、光线均匀、速度更快；
• 整板图片扫描，可按元件位置或者涂覆区域方式检测；
•整板图片保存功能，可压缩；
•结构简单、维护简便；
•元件高度：上下各 50mm；
•Coating 下的条码依然可读；
•MTBF（平均故障间隔时间）= 1.300.000 扫描；
•微米级缺陷检出，接近 0 误报。
生产测试时，可显示每一块检测的电路板上的厚度地形图，按照颜色划分，直观显示涂覆的厚度变化，实时提供准确全面的数据给涂覆设备以调试制程参数，实现 close loop。
其它外观常见缺陷的检测
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