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飞针测试仪和嵌入式JTAG解决方案

时间:2022-03-14 16:03:57 点击次数:2

飞针测试程序是测试离散模拟组件的灵活解决方案。飞针测试机具有非常精确的测针(“探针”),特别适合中小批量生产。经常使用的测试方法是在线测试(ICT)和飞针测试(FPT)等,但是,如果用于球栅阵列(BGA)、芯片级封装(CSP)以及最小设计(例如01005)时,通过将飞针测试仪与嵌入式JTAG解决方案相结合,飞针测试的不足之处及其执行速度可降到最低水平。这种组合的特别优势在于,能够将探针应用于虚拟边界扫描单元,从而可以使用嵌入式JTAG解决方案来测试先前无法测试的走线。

边界扫描是一种电气测试方法,用于检测电路中的结构错误。扫描测试其实质是指“在电路的外围(边界)进行测试”。控制器、I/O模块、TAP收发器和
UUT。

boudary scan边界扫描

集成飞针测试机(FPT)的优势

故障覆盖范围极高,即使是高度紧凑的板卡
由于避免了标本专用的适配器,因此具有高度的灵活性和快速的开发时间
可以在元件焊点上接触,实现“没有测试点的测试”
每种测试程序均为专门应用技术,创建测试程序非常简便
由于可以减少测试步骤,因此整体系统速度加快

通过这些测试技术组合,在整个产品生命周期中,用户可以从板卡和系统级别的众多附加测试选项中高度受益。与单个系统相比,在测试覆盖范围、诊断深度和过程优化方面,集成具有显著的优势。

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