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Agilent3070(安捷伦3070)发展历史和详细介绍

2018-03-28 16:05:20

HP3070电路板测试系统主要用于电路板的在线测试,来测定PCB板上的模拟和数字元件的好坏,还可以进行PCB板的功能测试、组合逻辑测试、模拟测试和双向电路的测试。HP3070电路板测试系统使用的是UNIX或MS WINDOWS操作系统。硬件方面主要包括测试头(Testhead) ,控制器(Controller),电源柜(Support bay),真空箱(Vacuum box),测试夹具(Fixture)等等。

Agilent/HP3070 历史及进展
1.HP3070 Series 1 /2/3 90 年代 Unix system
2.Agilent3070 Series 3 2000 年 Unix system/PC
3.Agilent Medalist3070 /i5000 2006 年 PC system
4.Agilent Medalist i3070 (mux/un-mux) 2007 年 PC system

未上电测试:

1. Testing Pin Contact(pins):测试待测板跟治具间的接触是否良好,这个测试并不 一定需要,可视实际厂内制程来决定是否需要。在 testplan”Set_Custom_Options”子程序中,”Chek_Point_Mode”旗标有 Off(不 测),Pretest(每一次测试都先测),Failure(若有其它测试不良再测),这三种选择可 用。

2. Testing Preshorts:测试 Jumper,Fuse,Switch,可变电阻等组件。

3. Testing Shorts:测试待测板上,应该短路的地方是否短路,应该开路的地方是否 开路。

4. Testing Analog Unpowered:测试电容.电阻.二极管.晶体管等组件。

5. Testing Testjet:利用 Testjet 来检查 IC 的 pin 脚是否有开路。

6. Testing Polarity Check:检查极性电容是否反向。

7. Testing Connect Check:利用量测 IC I/O pin 的 clamping diode(保护二极管),来 检查 IC pin 脚是否开路。

上电测试:

8. Setting Up Power Supplies:对待测板上电并检查这些电源是否正常工作。

9. Testing Digital Incircuit:一般的数字 IC 测试。

10. Testing Digital Functional:数字 IC 的群组(cluster)功能测试,一般少用。 Testing Analog Powered and Mixed:量测 IC 的电压,振荡器的频率,及数字模拟混合 型 IC 的测试

11.烧录

12.boundcscan

 

Mother card:是Module的底板,向所有Module上的卡提供直流电源,为卡与卡之间传送信号和地址解码。

Control card : 在测板时,程序和数据从系统控制器中下载到卡上,据程序控制继电器Moudule的第六槽.

Pin card : 提供测试时的复用系统,每块双密度的Pin card提供用于测试的针数144。一个Module的测试能力为144*9=1296点。

 



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